1. Podstawowa terminologia metrologiczna - przypomnienie i ujednolicenie najważniejszych pojęć według słownika VIM:
• rozdzielczość
• dokładność
• stabilność
• liniowość
• dryft
2.Nadzorowania sprzętu kontrolno-pomiarowego (SKP) zgodnie z wymaganiami normy IATF 16949:2016
• oczekiwania klientów przemysłu motoryzacyjnego w zakresie nadzoru SKP
• definiowanie zakresu laboratorium
3. Cele zarządzania sprzętem kontrolno - pomiarowym (SKP) z punktu widzenia efektywnego funkcjonowania organizacji i spełniania wymagań klienta
4. Postępowanie z wyposażeniem niezgodnym
5. Wyposażenie pomiarowe a analiza MSA
6. Wymagania dotyczące laboratoriów wewnętrznych – warunki do kalibracji prostych urządzeń pomiarowych we własnym zakresie
7. Wymagania dotyczące laboratoriów zewnętrznych – omówienie najważniejszych postulatów
8. Wymagania dotyczące procesów pomiarowych i wyposażenia pomiarowego zgodnie z PN/EN 10012:2004
9. Opracowanie karty obiegowej wyposażenia
10. Prowadzenie zapisów z wzorcowań, kalibracji, adjustacji
11. Ustalanie czasookresów wzorcowań, przeglądów, zgodnie z wytycznymi normatywnymi
12. Prawidłowa zawartość świadectw wzorcowania
13. Zarządzanie laboratorium zgodnie z wymaganiami normy ISO 17025 – omówienie najważniejszych postulatów
14. Przykładowe metody wzorcowania SKP – omówienie wybranych przyrządów