Możliwość uczestnictwa w kompleksowym szkoleniu: STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU (SPC) ORAZ ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) Z WYKORZYSTANIEM MINITAB


1. Powtórzenie podstawowych zagadnień MSA 0,5h:
Zmienność całkowita w procesie i wpływ pomiaru,
Pomiar, proces i SPC,
Wyciąg z wymagań norm MSA (AIAG, VDA, etc.),
Dyskusja z grupą.
2. Składowe zmienności systemu pomiarowego 0,5h:
Diagram Ishikawy dla źródeł zmienności w systemie pomiarowym,
Poprawa systemu pomiarowego jako projekt.
3. Podstawowe metody analizy R&R dla danych ciągłych 1h:
Obciążenie pomiaru, dokładność, liniowość, stabilność,
Metoda rozstępów, metoda średnich i rozstępów, metoda ANOVA,
Wskaźniki Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, NDC i ich interpretacja,
Inne procedury analizy systemów pomiarowych (Procedura 1 i 3 dla automatycznych systemów pomiarowych),
Kryteria akceptowalności systemów.
4. Analiza R&R 4h:
Zebranie danych do badanego systemu pomiarowego, przygotowanie próbek (wstęp do ćwiczenia),
Analiza systemu pomiarowego wybranymi metodami (ćwiczenie indywidualne i grupowe),
Porównanie metod analizy R&R i interpretacja.
5. Organizacja badań R&R 0,5h:
Dobór próby, operatorów, warunków badania,
Wpływ doboru na wyniki analiz: dyskusja z grupą.
6. Przykłady analiz rzeczywistych i dyskusja 0,5h:
Przykłady rzeczywiste pozytywne i negatywne,
Dyskusja z grupą.

Uczestnik na czas trwania szkolenia powinien dysponować własnym laptopem z oprogramowaniem Minitab.